Nanophotonics
2 July 2024
Опторазведывательный спектрометр с использованием дифракционных нейронных сетей
Ze Wang1, Hang Chen2, Jianan Li1,3, Tingfa Xu1,3,4, Zejia Zhao2, Zhengyang Duan2, Sheng Gao2 and Xing Lin2
1 Школа оптики и фотоники Пекинского технологического института, Пекин 100081, Китай
2 Кафедра электронной инженерии, Университет Цинхуа, Пекин 100084, Китай
3 Ключевая лаборатория технологий и систем фотоэлектронной визуализации, Министерство образования Китая, Пекин 100081, Китай
4 Пекинский технологический институт, Чунцинский инновационный центр, Чунцин 401135, Китай
† Зе Ван и Хан Чен в равной степени внесли свой вклад в эту работу.
10.1515/наноф-2024-0233
В этой статье представлен новый гибкий полностью оптический спектрометр оптического интеллекта, названный OIS, использующий дифракционную нейронную сеть для высокоточной спектральной реконструкции, отличающийся низким энергопотреблением и обработкой со скоростью света. Эксперименты по моделированию показывают, что OIS способен достигать высокоточной спектральной реконструкции при пространственно-когерентных и некогерентных источниках света, не полагаясь на какие-либо сложные электронные алгоритмы, а интеграция с упрощенным модулем электрической калибровки может еще больше улучшить производительность OIS. Чтобы продемонстрировать надежность OIS, была также успешно проведена спектральная реконструкция на реальных наборах данных. Наша работа представляет собой ценный справочник по использованию дифракционных нейронных сетей в спектральном взаимодействии и восприятии, способствуя текущим разработкам в области фотонных вычислений и машинного обучения.
Anhui Province Academy of Science and Technology, No. 128,Wanshui Road, Hi-Tech Zone, Hefei City, Anhui Province, China
+86 17354022649
service@sondii.com
IPv6 ПОДДЕРЖИВАЕМАЯ СЕТЬ
Наши часы
Пн, 21 ноября – Ср, 23 ноября: 9:00 – 20:00.
Чт, 24.11: закрыто. С Днем Благодарения!
Пт, 25 ноября: 8:00–22:00.
Сб 26.11 – Вс 27.11: 10:00 – 21:00
(все часы указаны по восточному времени)
